phynixsurfix分体式测厚仪prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" 型号：(b)fn,(b)f,(b)n 产地：德国 (7500为bf价格，其他型号请询掌柜) 特点：世界新科技，手机外形，小测面积菜单操作， 分辨率0.1μm，两类基体自动识别 量程：0-1500μm，0-60mils， 90°直角探头九种规格，统计值在线显示 可选型号： surfix (b)fn 型适合测量金属基体上的 涂镀层、氧化膜等。 surfix (b)f 型适合钢铁基体上的涂镀层厚度测量。 surfix (b)n 型适合有色金属材上的膜厚测量。 技术参数： 测量范围 ： 0-1500μm,0 - 60mils 误 差： 1μm或1%读数 分 辨 率： 0.1μm或<测量读值的2% 显 示： 背景照明，四位读数显示，两行统计数字显示，英文操作指南 基体小面积： 5mmx5mm 基体小曲率： 凸面：1.5mm 凹面：5mm 基体小厚度： f型：0.2mm ,n型： 50μm 校准 厂家校准，零校准，校准箔校准 数据统计（仅限统计型）： 读数个数（多9999个），平均值，标准偏差，大值和小值 数据存储（仅限统计型）： 多200个测量数值,可单独调出 数据值（仅限统计型）： 上下限可调,声音报警 数据接口 ：红外通讯,irda标准 环境温度/表面温度 ： 0-50℃/150℃ 电源 ： 2节1.5伏aa碱性干电池